YP-150I日本YAMADA山田光學高亮度鹵素半導體檢查燈
YAMADA 高亮度鹵素光源檢查燈YP-150I$n日本YAMADA山田光學高亮度鹵素半導體檢查燈這是一種光源裝置,通過使用用于檢查 Si 晶圓和玻璃表面上的劃痕的照明光源提供 400,000Lux(30Φ)或更高的照明,可以觀察到細微的劃痕。
- 01
更新日期
2024-11-26 - 02
瀏覽量
4665
產品分類
PRODUCT CATEGORY產品中心/ PRODUCTS CENTER
更新日期
2024-11-26瀏覽量
4665更新日期
2024-12-03瀏覽量
870更新日期
2024-12-03瀏覽量
828更新日期
2024-12-02瀏覽量
1486更新日期
2024-12-02瀏覽量
628更新日期
2024-12-02瀏覽量
1284關于我們
公司簡介榮譽資質資料下載產品展示
GF-603AWP最小稱重1.8g日本AND精密天平 GF-403AWP可讀性0.001 克AND精密天平 GX-203AWP防止損壞重量傳感器AND精密天平 GX-224A日本AND最小穩重120mg精密天平 GF-324A雙向 USB 接口日本AND高級精密分析天平服務與支持
技術文章新聞中心聯系我們
聯系方式在線留言版權所有 © 2024 北崎國際貿易(北京)有限公司 備案號:京ICP備17005343號-5
技術支持:化工儀器網 管理登陸 sitemap.xml